Structural and morphological properties of annealed films of the As2S3-Sb2S3-SbI3 system
The results of investigations of the structure and surface morphology of annealed (As2S3)x(Sb2S3)y(SbI3)z (x = 45, 40, 35 і 30; у =27.5, 30, 32.5 і 35; z = 27.5,30,32.5 і 35) films are presents. Amorphous (As2S3)x(Sb2S3)y(SbI3)z films with a thickness ~ 500 nm were obtained by vacuum evapo...
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| Datum: | 2023 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | Грещук, О. М., Дуркот, М. О., Л. І. Макар, Л. І., Мудрий, С. І., Рубіш, В. М., Трикур, І. І., Штаблавий, І. І., Юркін, І. М., Юхимчук, В. О. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
2023
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/300334 |
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| Назва журналу: | Data Recording, Storage & Processing |
Institution
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