Фотостимульовані реверсивні перетворення у плівках Ge-Se як основа резистивного процесу

Досліджено закономірності резистивного процесу на відпалених шарах стекол розрізу Ge-Se та вивчено можливості створення за його допомогою складних рельєфно-фазових структур чи літографічних масок. Показано, що даний резистивний процес безпосередньо пов’язаний із реверсивними фотоструктурними змінами...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2014
Автори: Бабійчук, І.В., Данько, В.А., Індутний, І.З., Луканюк, М.В., Минько, В.І., Шепелявий, П.Є.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2014
Назва видання:Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108922
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Фотостимульовані реверсивні перетворення у плівках Ge-Se як основа резистивного процесу / І.В. Бабійчук, В.А. Данько, І.З. Індутний, М.В. Луканюк, В.І. Минько, П.Є. Шепелявий // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2014. — Вип. 49. — С. 36-41. — Бібліогр.: 12 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-108922
record_format dspace
spelling irk-123456789-1089222016-11-18T03:02:18Z Фотостимульовані реверсивні перетворення у плівках Ge-Se як основа резистивного процесу Бабійчук, І.В. Данько, В.А. Індутний, І.З. Луканюк, М.В. Минько, В.І. Шепелявий, П.Є. Досліджено закономірності резистивного процесу на відпалених шарах стекол розрізу Ge-Se та вивчено можливості створення за його допомогою складних рельєфно-фазових структур чи літографічних масок. Показано, що даний резистивний процес безпосередньо пов’язаний із реверсивними фотоструктурними змінами, які спостерігаються в даних стеклах, що, в свою чергу, дозволяє стирати повторним відпалом інформацію, записану фотоекспонуванням цих плівок, а також повторювати цикли відпал-експонування без значних змін характеристик отримуваних структур. The characteristics of resistive process have been investigated using the annealed Ge-Se layers, and possibilities of producing the complicated relief-phase structures or lithographic masks by using this process have been studied. It has been shown that this resistive process is directly related to the reversible photostructural changes in these glasses. It allows to use the repeat annealing to delete information written through the illumination of these films as well as to repeat annealing-illumination cycles without significant changes in the characteristics of the obtained structures. 2014 Article Фотостимульовані реверсивні перетворення у плівках Ge-Se як основа резистивного процесу / І.В. Бабійчук, В.А. Данько, І.З. Індутний, М.В. Луканюк, В.І. Минько, П.Є. Шепелявий // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2014. — Вип. 49. — С. 36-41. — Бібліогр.: 12 назв. — укр. 0233-7577 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108922 535.421; 621.793/794 uk Оптоэлектроника и полупроводниковая техника Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Ukrainian
description Досліджено закономірності резистивного процесу на відпалених шарах стекол розрізу Ge-Se та вивчено можливості створення за його допомогою складних рельєфно-фазових структур чи літографічних масок. Показано, що даний резистивний процес безпосередньо пов’язаний із реверсивними фотоструктурними змінами, які спостерігаються в даних стеклах, що, в свою чергу, дозволяє стирати повторним відпалом інформацію, записану фотоекспонуванням цих плівок, а також повторювати цикли відпал-експонування без значних змін характеристик отримуваних структур.
format Article
author Бабійчук, І.В.
Данько, В.А.
Індутний, І.З.
Луканюк, М.В.
Минько, В.І.
Шепелявий, П.Є.
spellingShingle Бабійчук, І.В.
Данько, В.А.
Індутний, І.З.
Луканюк, М.В.
Минько, В.І.
Шепелявий, П.Є.
Фотостимульовані реверсивні перетворення у плівках Ge-Se як основа резистивного процесу
Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
author_facet Бабійчук, І.В.
Данько, В.А.
Індутний, І.З.
Луканюк, М.В.
Минько, В.І.
Шепелявий, П.Є.
author_sort Бабійчук, І.В.
title Фотостимульовані реверсивні перетворення у плівках Ge-Se як основа резистивного процесу
title_short Фотостимульовані реверсивні перетворення у плівках Ge-Se як основа резистивного процесу
title_full Фотостимульовані реверсивні перетворення у плівках Ge-Se як основа резистивного процесу
title_fullStr Фотостимульовані реверсивні перетворення у плівках Ge-Se як основа резистивного процесу
title_full_unstemmed Фотостимульовані реверсивні перетворення у плівках Ge-Se як основа резистивного процесу
title_sort фотостимульовані реверсивні перетворення у плівках ge-se як основа резистивного процесу
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate 2014
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108922
citation_txt Фотостимульовані реверсивні перетворення у плівках Ge-Se як основа резистивного процесу / І.В. Бабійчук, В.А. Данько, І.З. Індутний, М.В. Луканюк, В.І. Минько, П.Є. Шепелявий // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2014. — Вип. 49. — С. 36-41. — Бібліогр.: 12 назв. — укр.
series Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
work_keys_str_mv AT babíjčukív fotostimulʹovaníreversivníperetvorennâuplívkahgeseâkosnovarezistivnogoprocesu
AT danʹkova fotostimulʹovaníreversivníperetvorennâuplívkahgeseâkosnovarezistivnogoprocesu
AT índutnijíz fotostimulʹovaníreversivníperetvorennâuplívkahgeseâkosnovarezistivnogoprocesu
AT lukanûkmv fotostimulʹovaníreversivníperetvorennâuplívkahgeseâkosnovarezistivnogoprocesu
AT minʹkoví fotostimulʹovaníreversivníperetvorennâuplívkahgeseâkosnovarezistivnogoprocesu
AT šepelâvijpê fotostimulʹovaníreversivníperetvorennâuplívkahgeseâkosnovarezistivnogoprocesu
first_indexed 2023-10-18T20:18:45Z
last_indexed 2023-10-18T20:18:45Z
_version_ 1796149526448308224