Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown
The influence of the electron impact secondary electron emission on the RF gas breakdown has been researched experimentally and theoretically with use of particle-in-sell simulation. The experiments and simulations are conducted in the discharge chamber with asymmetric electrodes which is frequently...
Збережено в:
| Дата: | 2013 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2013
|
| Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111947 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown / A.N. Dakhov, S.V. Dudin // Вопросы атомной науки и техники. — 2013. — № 4. — С. 149-154. — Бібліогр.: 22 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-111947 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1119472017-01-16T03:04:07Z Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown Dakhov, A.N. Dudin, S.V. Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия The influence of the electron impact secondary electron emission on the RF gas breakdown has been researched experimentally and theoretically with use of particle-in-sell simulation. The experiments and simulations are conducted in the discharge chamber with asymmetric electrodes which is frequently used in technological applications. As a result, the physical mechanism of secondary electron participation in the RF breakdown has been revealed. Вивчено вплив вторинної електронної емісії на ВЧ-пробій газу для розрядної камери з асиметричними електродами. Проведено експериментальні дослідження та чисельні розрахунки з використанням методу PIC (particle-in-sell). Пояснений фізичний механізм участі вторинних електронів в ВЧ-пробої газу. Изучено влияние вторичной электронной эмиссии на ВЧ-пробой газа для разрядной камеры с асимметричными электродами. Проведены экспериментальные исследования и численные расчеты с использованием метода PIC (particle-in-sell). Объяснен физический механизм участия вторичных электронов в ВЧ-пробое газа. 2013 Article Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown / A.N. Dakhov, S.V. Dudin // Вопросы атомной науки и техники. — 2013. — № 4. — С. 149-154. — Бібліогр.: 22 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 52.80.Pi http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111947 en Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
English |
| topic |
Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия |
| spellingShingle |
Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия Dakhov, A.N. Dudin, S.V. Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown Вопросы атомной науки и техники |
| description |
The influence of the electron impact secondary electron emission on the RF gas breakdown has been researched experimentally and theoretically with use of particle-in-sell simulation. The experiments and simulations are conducted in the discharge chamber with asymmetric electrodes which is frequently used in technological applications. As a result, the physical mechanism of secondary electron participation in the RF breakdown has been revealed. |
| format |
Article |
| author |
Dakhov, A.N. Dudin, S.V. |
| author_facet |
Dakhov, A.N. Dudin, S.V. |
| author_sort |
Dakhov, A.N. |
| title |
Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown |
| title_short |
Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown |
| title_full |
Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown |
| title_fullStr |
Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown |
| title_full_unstemmed |
Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown |
| title_sort |
influence of secondary electron emission on the rf gas breakdown |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| publishDate |
2013 |
| topic_facet |
Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111947 |
| citation_txt |
Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown / A.N. Dakhov, S.V. Dudin // Вопросы атомной науки и техники. — 2013. — № 4. — С. 149-154. — Бібліогр.: 22 назв. — англ. |
| series |
Вопросы атомной науки и техники |
| work_keys_str_mv |
AT dakhovan influenceofsecondaryelectronemissionontherfgasbreakdown AT dudinsv influenceofsecondaryelectronemissionontherfgasbreakdown |
| first_indexed |
2024-03-30T09:19:39Z |
| last_indexed |
2024-03-30T09:19:39Z |
| _version_ |
1796149834176004096 |