Annealing Effect on the Microstructure and Mechanical Properties of a Thin Titanium Nitride Film
Titanium nitride (TiN) films were deposited by the D.C. magnetron sputtering process on a SUS 304 steel substrate. The effect of postdeposition annealing on the microstructure and mechanical properties of thin TiN films was studied in detail using atomic force microscopy, a potentiostat and na...
Збережено в:
| Дата: | 2014 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут проблем міцності ім. Г.С. Писаренко НАН України
2014
|
| Назва видання: | Проблемы прочности |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/112717 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Annealing Effect on the Microstructure and Mechanical Properties of a Thin Titanium Nitride Film / S.C. Her, C.L. Wu // Проблемы прочности. — 2014. — № 2. — С. 66-72. — Бібліогр.: 21 назв. — англ. |