Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига

В работе проведен анализ изменения оптических и структурных характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига для установления физического механизма повышения чувствительности преобразователей на основе поверхностного плазмонного резонанса (ППР). Компьютерное мо...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автори: Костюкевич, Е.В., Костюкевич, С.А., Кудрявцев, А.А., Москаленко, Н.Л.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2015
Назва видання:Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116756
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига / Е.В. Костюкевич, С.А. Костюкевич, А.А. Кудрявцев, Н.Л. Москаленко // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2015. — Вип. 50. — С. 102-108. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine