Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига

Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига

В работе проведен анализ изменения оптических и структурных характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига для установления физического механизма повышения чувствительности преобразователей на основе поверхностного плазмонного резонанса (ППР). Компьютерное мо...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автори: Костюкевич, Е.В., Костюкевич, С.А., Кудрявцев, А.А., Москаленко, Н.Л.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2015
Назва видання:Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116756
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига / Е.В. Костюкевич, С.А. Костюкевич, А.А. Кудрявцев, Н.Л. Москаленко // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2015. — Вип. 50. — С. 102-108. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-116756
record_format dspace
spelling irk-123456789-1167562017-05-15T03:02:38Z Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига Костюкевич, Е.В. Костюкевич, С.А. Кудрявцев, А.А. Москаленко, Н.Л. В работе проведен анализ изменения оптических и структурных характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига для установления физического механизма повышения чувствительности преобразователей на основе поверхностного плазмонного резонанса (ППР). Компьютерное моделирование влияния адсорбции биомолекул на сдвиг резонансного угла ППР при различных значениях оптических постоянных пленки золота выполнено в рамках однослойной модели с использованием формул Френеля и математического формализма матриц рассеивания Джонса. Коэффициенты преломления и экстинкции исследуемых пленок при различной температуре отжига получены подгонкой измерений угловых резонансных зависимостей ППР и спектральных измерений пропускание/отражение при разных углах падения света. Показано, что механизмом повышения чувствительности преобразователя ППР является уменьшение коэффициента экстинкции металлической пленки при повышении температуры отжига с оптимумом при 120 °С. In the work, we have performed the analysis of changes in optical and structural characteristics of polycrystalline gold films after low-temperature annealing to ascertain the physical mechanism of enhancing the sensitivity of transducers based on surface plasmon resonance (SPR). Computer modeling the effect of biomolecule adsorption on the shift in position of the SPR resonance angle for different values of optical parameters inherent to gold films has been performed within the framework of a single-layer model by using the Fresnel formulae and mathematical formalism of Jones’ scattering matrixes. The coefficients of refraction and extinction characterizing the studied films at various annealing temperatures were obtained by fitting the data of SPR curves as well as results of spectral measurements of transmission/reflection for various angles of light incidence. It has been shown that the mechanism responsible for enhancing the sensitivity of SPR transducer is the decrease of extinction coefficient inherent to gold films with increasing the annealing temperature. The optimum of the latter corresponds to 120 °С. 2015 Article Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига / Е.В. Костюкевич, С.А. Костюкевич, А.А. Кудрявцев, Н.Л. Москаленко // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2015. — Вип. 50. — С. 102-108. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. 0233-7577 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116756 535.394 ru Оптоэлектроника и полупроводниковая техника Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
description В работе проведен анализ изменения оптических и структурных характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига для установления физического механизма повышения чувствительности преобразователей на основе поверхностного плазмонного резонанса (ППР). Компьютерное моделирование влияния адсорбции биомолекул на сдвиг резонансного угла ППР при различных значениях оптических постоянных пленки золота выполнено в рамках однослойной модели с использованием формул Френеля и математического формализма матриц рассеивания Джонса. Коэффициенты преломления и экстинкции исследуемых пленок при различной температуре отжига получены подгонкой измерений угловых резонансных зависимостей ППР и спектральных измерений пропускание/отражение при разных углах падения света. Показано, что механизмом повышения чувствительности преобразователя ППР является уменьшение коэффициента экстинкции металлической пленки при повышении температуры отжига с оптимумом при 120 °С.
format Article
author Костюкевич, Е.В.
Костюкевич, С.А.
Кудрявцев, А.А.
Москаленко, Н.Л.
spellingShingle Костюкевич, Е.В.
Костюкевич, С.А.
Кудрявцев, А.А.
Москаленко, Н.Л.
Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига
Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
author_facet Костюкевич, Е.В.
Костюкевич, С.А.
Кудрявцев, А.А.
Москаленко, Н.Л.
author_sort Костюкевич, Е.В.
title Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига
title_short Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига
title_full Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига
title_fullStr Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига
title_full_unstemmed Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига
title_sort анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate 2015
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116756
citation_txt Анализ изменения оптических характеристик поликристаллических пленок золота под влиянием низкотемпературного отжига / Е.В. Костюкевич, С.А. Костюкевич, А.А. Кудрявцев, Н.Л. Москаленко // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2015. — Вип. 50. — С. 102-108. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
series Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
work_keys_str_mv AT kostûkevičev analizizmeneniâoptičeskihharakteristikpolikristalličeskihplenokzolotapodvliâniemnizkotemperaturnogootžiga
AT kostûkevičsa analizizmeneniâoptičeskihharakteristikpolikristalličeskihplenokzolotapodvliâniemnizkotemperaturnogootžiga
AT kudrâvcevaa analizizmeneniâoptičeskihharakteristikpolikristalličeskihplenokzolotapodvliâniemnizkotemperaturnogootžiga
AT moskalenkonl analizizmeneniâoptičeskihharakteristikpolikristalličeskihplenokzolotapodvliâniemnizkotemperaturnogootžiga
first_indexed 2023-10-18T20:28:18Z
last_indexed 2023-10-18T20:28:18Z
_version_ 1796150282880548864

Схожі ресурси