2025-02-23T11:09:50-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-116781%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T11:09:50-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-116781%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T11:09:50-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T11:09:50-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд)

Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд)

Узагальнено матеріал з дослідження мікроплазмового контрольованого пробою в InGaN/GaN гетероструктурах світлодіодів та в різноманітних GaN, GaAs, GaP, SiC, Si, ZnO структурах. Установлено, що характеристики мікроплазм світлодіодних структур прямо пов’язані з їх функціональними параметрами. Показано,...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Велещук, В.П., Власенко, О.І., Власенко, З.К., Хміль, Д.М., Камуз, О.М., Борщ, В.В.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2016
Series:Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116781
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

Internet

http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116781

Similar Items