2025-02-23T15:16:05-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-116781%22&qt=morelikethis&rows=5

2025-02-23T15:16:05-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-116781%22&qt=morelikethis&rows=5

2025-02-23T15:16:05-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK

2025-02-23T15:16:05-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response

Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд)

Узагальнено матеріал з дослідження мікроплазмового контрольованого пробою в InGaN/GaN гетероструктурах світлодіодів та в різноманітних GaN, GaAs, GaP, SiC, Si, ZnO структурах. Установлено, що характеристики мікроплазм світлодіодних структур прямо пов’язані з їх функціональними параметрами. Показано,...

Full description

Saved in:

Bibliographic Details
Main Authors:	Велещук, В.П., Власенко, О.І., Власенко, З.К., Хміль, Д.М., Камуз, О.М., Борщ, В.В.
Format:	Article
Language:	Ukrainian
Published:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2016
Series:	Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
Online Access:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116781
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!

id	irk-123456789-116781
record_format	dspace
spelling	irk-123456789-1167812017-05-16T03:02:50Z Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) Велещук, В.П. Власенко, О.І. Власенко, З.К. Хміль, Д.М. Камуз, О.М. Борщ, В.В. Узагальнено матеріал з дослідження мікроплазмового контрольованого пробою в InGaN/GaN гетероструктурах світлодіодів та в різноманітних GaN, GaAs, GaP, SiC, Si, ZnO структурах. Установлено, що характеристики мікроплазм світлодіодних структур прямо пов’язані з їх функціональними параметрами. Показано, що за люмінесцентними та електричними характеристиками мікроплазм можливі експресний неруйнівний контроль та діагностика ІnGaN/GaN потужних світлодіодів. Досліджено спектри електролюмінесценції мікроплазм та встановлено джерела мікроплазм в ІnGaN/GaN гетероструктурах. Results of researching the controlled microplasma breakdown in the LED InGaN/GaN heterostructures and various GaN, GaAs, GaP, SiC, Si, ZnO structures have been generalized. It has been ascertained that parameters of the microplasmas in LEDs are directly related with their functional parameters. It has been shown that non-destructive express control and diagnostics of power InGaN/GaN LEDs are possible when being based on the luminescent and electric parameters of microplasmas. The electroluminescence spectra of the microplasmas have been researched and the sources of microplasmas in the InGaN/GaN heterostructures have been determined. 2016 Article Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) / В.П. Велещук, О.І. Власенко, З.К. Власенко, Д.М. Хміль, О.М. Камуз, В.В. Борщ // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2016. — Вип. 51. — С. 31-42. — Бібліогр.: 75 назв. — укр. 0233-7577 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116781 621.383:621.381.2 uk Оптоэлектроника и полупроводниковая техника Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Ukrainian
description	Узагальнено матеріал з дослідження мікроплазмового контрольованого пробою в InGaN/GaN гетероструктурах світлодіодів та в різноманітних GaN, GaAs, GaP, SiC, Si, ZnO структурах. Установлено, що характеристики мікроплазм світлодіодних структур прямо пов’язані з їх функціональними параметрами. Показано, що за люмінесцентними та електричними характеристиками мікроплазм можливі експресний неруйнівний контроль та діагностика ІnGaN/GaN потужних світлодіодів. Досліджено спектри електролюмінесценції мікроплазм та встановлено джерела мікроплазм в ІnGaN/GaN гетероструктурах.
format	Article
author	Велещук, В.П. Власенко, О.І. Власенко, З.К. Хміль, Д.М. Камуз, О.М. Борщ, В.В.
spellingShingle	Велещук, В.П. Власенко, О.І. Власенко, З.К. Хміль, Д.М. Камуз, О.М. Борщ, В.В. Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
author_facet	Велещук, В.П. Власенко, О.І. Власенко, З.К. Хміль, Д.М. Камуз, О.М. Борщ, В.В.
author_sort	Велещук, В.П.
title	Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд)
title_short	Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд)
title_full	Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд)
title_fullStr	Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд)
title_full_unstemmed	Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд)
title_sort	неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі gаn за мікроплазмами (огляд)
publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate	2016
url	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116781
citation_txt	Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) / В.П. Велещук, О.І. Власенко, З.К. Власенко, Д.М. Хміль, О.М. Камуз, В.В. Борщ // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2016. — Вип. 51. — С. 31-42. — Бібліогр.: 75 назв. — укр.
series	Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
work_keys_str_mv	AT veleŝukvp nerujnívnijkontrolʹtadíagnostikasvítlodíodnihstrukturnaosnovíganzamíkroplazmamioglâd AT vlasenkooí nerujnívnijkontrolʹtadíagnostikasvítlodíodnihstrukturnaosnovíganzamíkroplazmamioglâd AT vlasenkozk nerujnívnijkontrolʹtadíagnostikasvítlodíodnihstrukturnaosnovíganzamíkroplazmamioglâd AT hmílʹdm nerujnívnijkontrolʹtadíagnostikasvítlodíodnihstrukturnaosnovíganzamíkroplazmamioglâd AT kamuzom nerujnívnijkontrolʹtadíagnostikasvítlodíodnihstrukturnaosnovíganzamíkroplazmamioglâd AT borŝvv nerujnívnijkontrolʹtadíagnostikasvítlodíodnihstrukturnaosnovíganzamíkroplazmamioglâd
first_indexed	2023-10-18T20:28:22Z
last_indexed	2023-10-18T20:28:22Z
_version_	1796150285768327168

Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд)

Similar Items