Electron traps in solid Xe
Correlated real-time measurements of thermally stimulated luminescence and exoelectron emission from solid Xe pre-irradiated with an electron beam were performed. The study enabled us to distinguish between surface and bulk traps in solid Xe and to identify a peak related to electronically induced d...
Збережено в:
Дата: | 2009 |
---|---|
Автори: | , , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2009
|
Назва видання: | Физика низких температур |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/117131 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Electron traps in solid Xe / Ivan V. Khyzhniy, Sergey A. Uyutnov, Elena V. Savchenko, Galina B. Gumenchuk, Alexey N. Ponomaryov, Vladimir E. Bondybey // Физика низких температур. — 2009. — Т. 35, № 4. — С. 433-437. — Бібліогр.: 13 назв. — англ. |