Features of piezoresistance in heavily doped n-silicon crystals

It has been shown that in silicon single crystals heavily doped with arsenic the presence of the temperature gradient at the interface of the liquid and solid phases in the process of growing them from a melt does not lead to anisotropy of piezoresistance under the passing current both along th...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2013
Автор: Gaidar, G.P.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2013
Назва видання:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/117668
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Features of piezoresistance in heavily doped n-silicon crystals / G.P. Gaidar // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2013. — Т. 16, № 1. — С. 80-83. — Бібліогр.: 18 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine