Ultrasonic assisted nanomanipulations with atomic force microscope

• Видавець: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
• Дата: 2010
• Автори: Lytvyn, P.M., Olikh, O.Ya., Lytvyn, O.S., Dyachyns’ka, O.M., Prokopenko, I.V.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2010
• Назва видання: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/117741
• Цитувати: Ultrasonic assisted nanomanipulations with atomic force microscope / P.M. Lytvyn, O.Ya. Olikh, O.S. Lytvyn, O.M. Dyachyns’ka, I.V. Prokopenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2010. — Т. 13, № 1. — С. 36-42. — Бібліогр.: 38 назв. — англ.

Demonstrated experimentally in this work was the possibility of controlled handling the nanoparticles with the size from 50 up to 250 nm on a semiconductor surface by using an atomic force microscope under conditions of acoustic excitation. It has been shown that the selective transport of par...