High-power low-frequency current oscillations in germanium samples

Experimental investigation of high-power low-frequency current oscillations in germanium samples with low injecting contacts is discussed in this article. The results obtained were explained by periodic formation, transport along the sample, and collapse of the thermal gradient-drift (TGD) domain. T...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Дата:2003
Автор: Pavljuk, S.P.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2003
Назва видання:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/117868
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:High-power low-frequency current oscillations in germanium samples / S.P. Pavljuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2003. — Т. 6, № 1. — С. 19-22. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine