High-power low-frequency current oscillations in germanium samples
Experimental investigation of high-power low-frequency current oscillations in germanium samples with low injecting contacts is discussed in this article. The results obtained were explained by periodic formation, transport along the sample, and collapse of the thermal gradient-drift (TGD) domain. T...
Збережено в:
Видавець: | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
---|---|
Дата: | 2003 |
Автор: | |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2003
|
Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/117868 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Цитувати: | High-power low-frequency current oscillations in germanium samples / S.P. Pavljuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2003. — Т. 6, № 1. — С. 19-22. — Бібліогр.: 3 назв. — англ. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineРезюме: | Experimental investigation of high-power low-frequency current oscillations in germanium samples with low injecting contacts is discussed in this article. The results obtained were explained by periodic formation, transport along the sample, and collapse of the thermal gradient-drift (TGD) domain. The domain formation mechanism is considered in details in [1]. |
---|