Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry
This work is aimed at optical characterization of thin Au films by multiple-angle-of-incidence reflectance ellipsometry at the fixed wavelength (632.8 nm) in standard and attenuated total reflection (ATR) modes in contact with different dielectric media (water, alcohol and air). The comparative expe...
Збережено в:
| Дата: | 2003 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2003
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118041 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry / N.L. Dmitruk, O.V. Fursenko, O.S. Kondratenko, V.R. Romanyuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2003. — Т. 6, № 3. — С. 349-353. — Бібліогр.: 11 назв. — англ. |