Talanin, V., & Talanin, I. (2003). Classification of microdefects in semiconducting silicon. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Talanin, V.I, und I.E Talanin. Classification of Microdefects in Semiconducting Silicon. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2003.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Talanin, V.I, und I.E Talanin. Classification of Microdefects in Semiconducting Silicon. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2003.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.