Talanin, V., & Talanin, I. (2003). Classification of microdefects in semiconducting silicon. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Chicago Style (17th ed.) CitationTalanin, V.I, and I.E Talanin. Classification of Microdefects in Semiconducting Silicon. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2003.
MLA (8th ed.) CitationTalanin, V.I, and I.E Talanin. Classification of Microdefects in Semiconducting Silicon. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2003.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.