Exciton effects in band-edge electroluminescence of silicon barrier structures
A theoretical analysis of the band-edge electroluminescence efficiency in silicon diodes and p-i-n-structures has been made. We have shown that maximal possible efficiency can achieve 10 % both at room and liquid nitrogen temperatures. Maximal values of the efficiency are restricted by the interband...
Збережено в:
Дата: | 2004 |
---|---|
Автори: | , , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2004
|
Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118104 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Exciton effects in band-edge electroluminescence of silicon barrier structures / A.V. Sachenko, A.P. Gorban, D.V. Korbutyak, V.P. Kostylyov, Yu.V. Kryuchenko, V.V. Chernenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2004. — Т. 7, № 1. — С. 1-7. — Бібліогр.: 20 назв. — англ. |