Thermofield Cr→Cr²⁺ recharging resulting in anomalous intensification of Cr²⁺ emission in ZnS:Cr thin-film electroluminescent structures
For the first time, an anomalous strong increase of the Cr²⁺ emission intensity (I) with increasing the applied voltage (V) has been discovered in ZnS:Cr thin-film electroluminescent structures (TFELS) instead of the I(V) dependence saturation typical of TFELS of the MISIM type, where M is an...
Збережено в:
Дата: | 2007 |
---|---|
Автори: | , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2007
|
Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118131 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Thermofield Cr→Cr²⁺ recharging resulting in anomalous intensification of Cr²⁺ emission in ZnS:Cr thin-film electroluminescent structures / N.A. Vlasenko, P.F. Oleksenko, Z.L. Denisova, M.A. Mukhlyo, L.I. Veligura // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2007. — Т. 10, № 3. — С. 87-90. — Бібліогр.: 13 назв. — англ. |