Peculiarities of valence band formation in As-Ge-Se semiconductor glasses

Peculiarities of valence bands formation in As-Ge-Se semiconductor glasses have been investigated within AsxGexSe₁₋₂x cut of glass forming region by highresolution X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). It is shown that compositional dependence of XPS valence band spectra of the investigated glasse...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2012
Автори: Vakiv, M., Golovchak, R., Chalyy, D., Shpotyuk, M., Ubizskii, S., Shpotyuk, O.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
Назва видання:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118244
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Peculiarities of valence band formation in As-Ge-Se semiconductor glasses / M. Vakiv, R. Golovchak, D. Chalyy, M. Shpotyuk, S. Ubizskii, O. Shpotyuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2012. — Т. 15, № 1. — С. 32-34. — Бібліогр.: 16 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine