HgCdTe quantum wells grown by molecular beam epitaxy
CdxHg₁₋xTe-based (x = 0 – 0.25) quantum wells (QWs) of 8 – 22 nm in thickness were grown on (013) CdTe/ZnTe/GaAs substrates by molecular beam epitaxy. The composition and thickness (d) of wide-gap layers (spacers) were x ∼ 0.7 mol.frac. and d ∼ 35 nm, respectively, at both sides of the quantum we...
Збережено в:
Дата: | 2007 |
---|---|
Автори: | , , , , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2007
|
Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118333 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | HgCdTe quantum wells grown by molecular beam epitaxy / S.A.Dvoretsky, D.G.Ikusov. Z.D.Kvon, N.N.Mikhailov, V.G.Remesnik, R.N.Smirnov, Yu.G.Sidorov, V.A.Shvets // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2007. — Т. 10, № 4. — С. 47-53. — Бібліогр.: 25 назв. — англ. |