Polarization-singular structure in laser images of phase-inhomogeneous layers to diagnose and classify their optical properties

• Видавець: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
• Дата: 2010
• Автори: Ushenko, Yu.O., Misevich, I.Z., Angelsky, A.P., Bachinsky, V.T., Telen’ga, O.Yu., Olar, O.I.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2010
• Назва видання: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118397
• Цитувати: Polarization-singular structure in laser images of phase-inhomogeneous layers to diagnose and classify their optical properties / Yu.O. Ushenko, I.Z. Misevich, A.P. Angelsky, V.T. Bachinsky, O.Yu. Telen’ga, O.I. Olar // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2010. — Т. 13, № 3. — С. 248-258. — Бібліогр.: 43 назв. — англ.

Adduced in this work are the results of investigation aimed at analysis of coordinate distributions for azimuths and ellipticity of polarization (polarization maps) in laser images of three types of phase-inhomogeneous layers (PhIL), namely: rough, ground and bulk scattering layers. To characteri...