Structural and optical studies of (Ag₃AsS₃)₀.₆(As₂S₃)₀.₄ thin films deposited at different technological conditions
(Ag₃AsS₃)₀.₆(As₂S₃)₀.₄ thin films were deposited upon a quartz substrate by rapid thermal evaporation at temperatures 1050, 1200, and 1350 °C. Structural studies of the as-deposited thin films were carried out by scanning electron microscopy and atomic force microscopy. It is shown that the surfa...
Збережено в:
| Дата: | 2014 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2014
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118484 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Structural and optical studies of (Ag₃AsS₃)₀.₆(As₂S₃)₀.₄ thin films deposited at different technological conditions / I.P. Studenyak, Yu.Yu. Neimet, Y.Y. Rati, M.Yu. Buchuk, S. Kokenyesi, L. Daroci, R. Bohdan // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2014. — Т. 17, № 3. — С. 232-236. — Бібліогр.: 20 назв. — англ. |