Occupation preference values in doped CmIm' multinaries from EXAFS and FTIR correlative analysis

• Видавець: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
• Дата: 2011
• Автори: Robouch, B.V., Marcelli, A., Robouch, P., Kisiel, A.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2011
• Назва видання: Физика низких температур
• Теми: XVIII Уральская международная зимняя школа по физике полупроводников
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118525
• Цитувати: Occupation preference values in doped CmIm' multinaries from EXAFS and FTIR correlative analysis / B.V. Robouch, A. Marcelli, P. Robouch, A. Kisiel // Физика низких температур. — 2011. — Т. 37, № 3. — С. 308–312. — Бібліогр.: 25 назв. — англ.

We discuss which x-ray absorption fine structure (EXAFS) data of binary doped CmIm' compound structures can be unfolded to determine elemental bond distances and the deviations from random configurations due to site preference occupations (SOPs). SOP-deviation estimations can be further confirm...