Occupation preference values in doped CmIm' multinaries from EXAFS and FTIR correlative analysis

We discuss which x-ray absorption fine structure (EXAFS) data of binary doped CmIm' compound structures can be unfolded to determine elemental bond distances and the deviations from random configurations due to site preference occupations (SOPs). SOP-deviation estimations can be further confirm...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2011
Автори: Robouch, B.V., Marcelli, A., Robouch, P., Kisiel, A.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2011
Назва видання:Физика низких температур
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118525
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Occupation preference values in doped CmIm' multinaries from EXAFS and FTIR correlative analysis / B.V. Robouch, A. Marcelli, P. Robouch, A. Kisiel // Физика низких температур. — 2011. — Т. 37, № 3. — С. 308–312. — Бібліогр.: 25 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:We discuss which x-ray absorption fine structure (EXAFS) data of binary doped CmIm' compound structures can be unfolded to determine elemental bond distances and the deviations from random configurations due to site preference occupations (SOPs). SOP-deviation estimations can be further confirmed by independent Fourier transform infrared (FTIR) data analysis. The limits and restrictions of our model are presented and discussed.