Structural properties, photoelectric and photoluminescent characteristics of nanostructured silicon

• Дата: 2012
• Автори: Luchenko, A.I., Melnichenko, M.M., Svezhentsova, K.V.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
• Назва видання: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118726
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Structural properties, photoelectric and photoluminescent characteristics of nanostructured silicon / A.I. Luchenko, M.M. Melnichenko, K.V. Svezhentsova // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2012. — Т. 15, № 4. — С. 333-337. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

. Nanostructured silicon layers (3–60 nm) have been formed upon substrates of monocrystalline silicon with a very large area (100 cm2 ), multicrystalline and metallurgical silicon by stain etching. We studied optical and structural properties of nanostructured silicon using scanning tunnel micro...