Influence of electron irradiation on spectra of light electroreflection from the surface of Ge/Ge₁₋xSix heterostructure
In this work, the growth properties of Ge₁₋xSix epitaxial films grown on Ge substrates were investigated. The structural perfection of the films was controlled by electron diffraction, electron microscopic and X-ray diffraction methods. It has been established that the surface structure of the sa...
Збережено в:
| Видавець: | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2009 |
| Автори: | , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2009
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118836 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Influence of electron irradiation on spectra of light electroreflection from the surface of Ge/Ge₁₋xSix heterostructure / Sh.M. Abbasov, G.T. Aghaverdiyeva, Z.A. Ibrahimov, U.F. Farajova, R.A. Ibrahimova, Heyder Mehdevi // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2009. — Т. 12, № 4. — С. 357-361. — Бібліогр.: 13 назв. — англ. |