The resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy
The elastic Green function and resolution function in Piezoresponse Force Microscopy (PFM) of thin piezoelectric film capped on the rigid substrate are derived. The extrinsic size effect on the resolution function is demonstrated.
Збережено в:
| Дата: | 2008 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118851 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | The resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy / A.N. Morozovska // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2008. — Т. 11, № 2. — С. 171-177. — Бібліогр.: 11 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | The elastic Green function and resolution function in Piezoresponse Force
Microscopy (PFM) of thin piezoelectric film capped on the rigid substrate are derived.
The extrinsic size effect on the resolution function is demonstrated. |
|---|