Radiation-stimulated relaxation of internal mechanical straines in homoepitaxial GaP films
The electroreflectance method based on the electrolyte technique is used for investigation of electron transitions E₀, E₀ + Δ₀ in homoepitaxial films n-GaP (111) with the electron concentration 5.7*10²³ m⁻³ before and after irradiation by ⁶⁰Co gamma quanta in the dose range 10⁵ – 10⁶ rad under the r...
Збережено в:
| Видавець: | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2004 |
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2004
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/119117 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Radiation-stimulated relaxation of internal mechanical straines in homoepitaxial GaP films / P.A. Gentsar, A.A. Kudryavtsev // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2004. — Т. 7, № 3. — С. 240-242. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. |