Ellipsometry examination of copper alloys with transitive metals

Electron structure of copper alloys with 3d transition metals (Fe, Co and Cr) have been studied basing on elliposometrical measurement of D and Y in wide spectral range hn = 1.0–4.95 eV. Spectral dependences of Cu-Cr alloys optical conductivity in wide range of chrome concentration (C = 2.5–30 at. %...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2004
Автори: Filipov, Y.V., Staschuk, V.S., Poperenko, L.V., Vovchenko, V.V.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2004
Назва видання:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/119126
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Ellipsometry examination of copper alloys with transitive metals / Y.V. Filipov, V.S. Staschuk, L.V. Poperenko, V.V. Vovchenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2004. — Т. 7, № 3. — С. 287-290. — Бібліогр.: 10 назв. — англ.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine