X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
The paper presents the X-ray photoelectron spectra (XPS) of the valence band (VB) and of the core levels (CL) of uniaxial ferroelectric Sn₂P₂S₆ single crystals from different crystallographic planes in both paraelectric and ferroelectric phases. The XPS were measured with monochromatized Al Kα rad...
Збережено в:
| Дата: | 2008 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики конденсованих систем НАН України
2008
|
| Назва видання: | Condensed Matter Physics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/119343 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals / J. Grigas, E. Talik, V. Lazauskas, Yu.M. Vysochanskii, R. Yevych, M. Adamiec, V. Nelkinas // Condensed Matter Physics. — 2008. — Т. 11, № 3(55). — С. 473-482. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. |