XRD method for the determination of internal stresses in KDP crystals and their relationship to the anomalous biaxiality

Designed precision method for determining residual stresses in crystals of the KDP on the relative displacement of the rocking curves (RC), caused by the presence of tensile stress, compression from the {110} or {101}, with the asymmetric geometry of the shooting at the reflection. The error in dete...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автори: Puzikov, V.M., Tkachenko, V.F., Tsurikov, V.A.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2015
Назва видання:Functional Materials
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/119559
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:XRD method for the determination of internal stresses in KDP crystals and their relationship to the anomalous biaxiality / V.M. Puzikov, V.F. Tkachenko, V.A. Tsurikov // Functional Materials. — 2015. — Т. 22, № 3. — С. 402-407. — Бібліогр.: 17 назв. — англ.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine