The distribution of field-induced charges in C₆₀ fullerite

The profile of injected charges in a C₆₀-based field-effect transistor (FET) is considered. A simple scheme for calculations of the charge distribution between the 2D layers of C₆₀ molecules is founded on a small magnitude of the interball electron hopping. Analytical solutions of the equations f...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2006
Автори: Kuprievich, V.A., Kapitanchuk, O.L., Shramko, O.V., Kudritska, Z.G.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2006
Назва видання:Физика низких температур
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120055
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:The distribution of field-induced charges in C₆₀ fullerite / V.A. Kuprievich, O.L. Kapitanchuk, O.V. Shramko, Z.G. Kudritska // Физика низких температур. — 2006. — Т. 32, № 1. — С. 125-128. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine