Laser scanning microscopy of HTS films and devices (Review Article)

• Видавець: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
• Дата: 2006
• Автори: Zhuravel, A.P., Sivakov, A.G., Turutanov, O.G., Omelyanchouk, A.N., Anlage, S.M., Lukashenko, A., Ustinov, A.V., Abraimov, D.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2006
• Назва видання: Физика низких температур
• Теми: Experimental Methods and Applications
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120206
• Цитувати: Laser scanning microscopy of HTS films and devices (Review Article) / A.P. Zhuravel, A.G. Sivakov, O.G. Turutanov, A.N. Omelyanchouk, S.M. Anlage, A. Lukashenko, A.V. Ustinov, D. Abraimov // Физика низких температур. — 2006. — Т. 32, № 6. — С. 775–794. — Бібліогр.: 74 назв. — англ.

The work describes the capabilities of laser scanning microscopy (LSM) as a spatially-resolved method of testing high–Tc materials and devices. The earlier results obtained by the authors are briefly reviewed. Some novel applications of the LSM are illustrated, including imaging the HTS responses...