Microwave properties of HTS films: measurements in millimeter wave range

A theoretical and experimental justification of an approach proposed and developed by us for surface impedance standard measurements of HTS films is presented. An analysis of the electromagnetic properties of quasi-optical dielectric resonators with conducting endplates, which provides a theoreti...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2006
Автори: Cherpak, N.T., Barannik, A.A., Prokopenko, Yu.V., Filipov, Yu.F., Vitusevich, S.A.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2006
Назва видання:Физика низких температур
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120207
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Microwave properties of HTS films: measurements in millimeter wave range / N.T. Cherpak, A.A. Barannik, Yu.V. Prokopenko, Yu.F. Filipov, S.A. Vitusevich // Физика низких температур. — 2006. — Т. 32, № 6. — С. 795–801. — Бібліогр.: 21 назв. — англ.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine