Exciton-enhanced recombination in silicon at high concentrations of charge carriers
The interrelation between processes of electron-hole recombination and annihilation of excitons in silicon is examined. It is shown, that recombination processes can be essentially influenced by the exciton annihilation at high concentrations of non-equilibrium or equilibrium charge carriers. In n-t...
Збережено в:
| Дата: | 2000 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2000
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120224 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Exciton-enhanced recombination in silicon at high concentrations of charge carriers / A.V. Sachenko, A.P. Gorban, V.P. Kostylyov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 1. — С. 5-10. — Бібліогр.: 28 назв. — англ. |