Investigation of damaged layer formed at mechanical treatment of sapphire using three-crystal X-ray diffraction method
The methods of three-crystal X-ray diffractometry were used for investigating structure perfection in surface-adjacent damaged layer (DL) formed in the process of mechanical and chemical-mechanical treatment of sapphire crystals with the surface orientation {0001} {11-20}. Analysis of the diffractio...
Збережено в:
Дата: | 2014 |
---|---|
Автори: | , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2014
|
Назва видання: | Functional Materials |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120413 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Investigation of damaged layer formed at mechanical treatment of sapphire using three-crystal X-ray diffraction method / V.F. Tkachenko, S.I. Kryvonogov, A.T. Budnikov, O.A. Lukienko, E.A. Vovk // Functional Materials. — 2014. — Т. 21, № 2. — С. 171-175. — Бібліогр.: 17 назв. — англ. |