Investigation of damaged layer formed at mechanical treatment of sapphire using three-crystal X-ray diffraction method

The methods of three-crystal X-ray diffractometry were used for investigating structure perfection in surface-adjacent damaged layer (DL) formed in the process of mechanical and chemical-mechanical treatment of sapphire crystals with the surface orientation {0001} {11-20}. Analysis of the diffractio...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2014
Автори: Tkachenko, V.F., Kryvonogov, S.I., Budnikov, A.T., Lukienko, O.A., Vovk, E.A.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2014
Назва видання:Functional Materials
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120413
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Investigation of damaged layer formed at mechanical treatment of sapphire using three-crystal X-ray diffraction method / V.F. Tkachenko, S.I. Kryvonogov, A.T. Budnikov, O.A. Lukienko, E.A. Vovk // Functional Materials. — 2014. — Т. 21, № 2. — С. 171-175. — Бібліогр.: 17 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси