Polishing substrates of single crystal silicon carbide and sapphire for optoelectronics

As a result of research of polishing single crystal materials it is shown that the material removal rate of the processed material depends on the volumetric wear coefficient and friction path length of element of the processed surface on the surface of lapping. It is found that the polishing flat su...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2016
Автори: Filatov, O.Yu., Sidorko, V.I., Kovalev, S.V., Filatov, Y.D., Vetrov, A.G.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2016
Назва видання:Functional Materials
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120560
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Polishing substrates of single crystal silicon carbide and sapphire for optoelectronics / O.Yu. Filatov, V.I. Sidorko, S.V. Kovalev, Y.D. Filatov, A.G. Vetrov // Functional Materials. — 2016. — Т. 23, № 1. — С. 104-110. — Бібліогр.: 24 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine