Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
Calculative method based on the Riccatti type differential equation was tested for simulation of low angle X-ray diffraction patterns from the one-dimensionally ordered multilayer. Some peculiarities of diffraction were revealed connected with asymmetrical distortion of the multilayer profile due to...
Збережено в:
| Дата: | 2000 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2000
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121196 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion / A.G. Fedorov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 4. — С. 554-557. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. |