Probabilistic approach to the analysis of regularities in behavior of material parameters of electronic equipment under action of external fields
It has been shown that the dependence between the parameters of materials of electronic equipment and external fields is determined by the distribution function of the corresponding random variable. The obtained results have been applied to the analysis of a number of physical phenomena.
Збережено в:
| Видавець: | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2015 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2015
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121275 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Probabilistic approach to the analysis of regularities in behavior of material parameters of electronic equipment under action of external fields / G.V. Milenin // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2015. — Т. 18, № 4. — С. 456-459. — Бібліогр.: 10 назв. — англ. |