Precise measurements of the wavelength in KrCl laser spectral region (222 nm)
The technique for precise measurements of wavelengths in the range around 222 nm (45030 cm⁻¹) has been presented. The reciprocal linear dispersion of the spectrometer was 0.529 Å/mm. The measurements were made in the second spectral order for a grating with 2400 lines/mm. Identification of emission...
Збережено в:
| Дата: | 2016 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2016
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121561 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Precise measurements of the wavelength in KrCl laser spectral region (222 nm) / N.G. Zubrilin, I.A. Pavlov, S.M. Baschenko, O.M. Tkachenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2016. — Т. 19, № 2. — С. 188-191. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. |