Conductivity and photoconductivity peculiarities observed in C₆₀ layers

Thin layers of various thickness prepared from C60 with traces of C70 were studied. They were deposited by thermal evaporation on quartz, glass, p-Si or n-Si substrates. An apparatus fixing current values every 3 ms was used to measure and register the kinetics of layer conductivity and photoconduct...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2006
Автори: Kanev, St., Nenova, Z., Koprinarov, N., Ivanova, K.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2006
Назва видання:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121627
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Conductivity and photoconductivity peculiarities observed in C₆₀ layers / St. Kanev, Z. Nenova, N. Koprinarov, K. Ivanova // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2006. — Т. 9, № 4. — С. 17-20. — Бібліогр.: 16 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine