2025-02-23T09:19:01-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-125991%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T09:19:01-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-125991%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T09:19:01-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T09:19:01-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response

Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием

Рассмотрены структурные особенности нанокристаллической HFCVD алмазной пленки и построена физико-математическая модель атомной структуры ее поверхности. Пленку исследовали на воздухе на сканирующем туннельном микроскопе, оснащенном острием из полупроводникового монокристалла алмаза, легированного бо...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Цысарь, М.А.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2012
Series:Сверхтвердые материалы
Subjects:
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/125991
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!