Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии
Исследована спектральная плотность шума магнитного потока SФ¹/²(f) ВТСП ВЧ сквидов с частотой накачки 390-457 МГц в трехслойном пермаллоевом и сверхпроводящем экранах. Сверхпроводящий интерферометр, имеющий внутренний размер контура квантования 100´100 мкм, изготовлен по тонкопленочной технологии с...
Збережено в:
| Дата: | 2003 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2003
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/128793 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии / С.С. Хвостов, В.П. Тимофеев, А.С. Гарбуз, В.И. Шнырков // Физика низких температур. — 2003. — Т. 29, № 2. — С. 211-215. — Бібліогр.: 11. назв. — рос. |