Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии
Исследована спектральная плотность шума магнитного потока SФ¹/²(f) ВТСП ВЧ сквидов с частотой накачки 390-457 МГц в трехслойном пермаллоевом и сверхпроводящем экранах. Сверхпроводящий интерферометр, имеющий внутренний размер контура квантования 100´100 мкм, изготовлен по тонкопленочной технологии с...
Збережено в:
| Дата: | 2003 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2003
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/128793 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии / С.С. Хвостов, В.П. Тимофеев, А.С. Гарбуз, В.И. Шнырков // Физика низких температур. — 2003. — Т. 29, № 2. — С. 211-215. — Бібліогр.: 11. назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-128793 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1287932018-01-14T03:03:21Z Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии Хвостов, С.С. Тимофеев, В.П. Гарбуз, А.С. Шнырков, В.И. Новые методы низкотемпературного эксперимента Исследована спектральная плотность шума магнитного потока SФ¹/²(f) ВТСП ВЧ сквидов с частотой накачки 390-457 МГц в трехслойном пермаллоевом и сверхпроводящем экранах. Сверхпроводящий интерферометр, имеющий внутренний размер контура квантования 100´100 мкм, изготовлен по тонкопленочной технологии с джозефсоновским контактом YBaCuO-PrBaCuO-YВaCuO типа ramp-edge. Показано, что при использовании охлаждаемого предусилителя энергетическая чувствительность сквидов в области "белого" шума (на частотах выше 1кГц) составляет 4×10⁻³⁰ Дж/Гц и в основном определяется собственными шумами ВТСП интерферометра и экранов. На низких частотах преобладают шумы, связанные с внешними полями, проникающими непосредственно в экраны. Ферромагнитная антенна сквид-микроскопа увеличивает собственный шум магнитометра до величины 8×10⁻³⁰ Дж/Гц на частотах выше 1 кГц. Досліджено спектральну густину шуму магнітного потоку SФ¹/²(f) ВТНП ВЧ сквідів з частотою накачування 390-457 МГц у трьохшаровому пермалойовому та надпровідному екранах. Надпровідний інтерферометр, що має внутрішній розмір контура квантування 100´100 мкм, виготовлено за тонкоплівковою технологією з джозефсонівським контактом YBaCuO-PrBaCuO-YВaCuO типу ramp-edge. Показано, що при використанні охолоджуваного передпідсилювача енергетична чутливість сквідів у області «білого» шуму (на частотах вище за 1 кГц) складає 4×10⁻³⁰ Дж/Гц та в основному визначається власними шумами ВТНП інтерферометра та екранів. На низьких частотах переважують шуми, які пов язані з зовнішніми полями, проникаючими безпосередньо у екрани. Феромагнітна антена сквід-мікроскопа збільшує власний шум магнітометра до величини 8×10⁻³⁰ Дж/Гц на частотах вище за 1 кГц. The spectral density of magnetic flux noise SФ¹/²(f) for HTS RF SQUIDs with a pumping frequency of 390–457 Mhz within triple-layer permalloy and superconducting shields are investigated. The superconducting interferometers of 100x100 m, are fabricated by the thin film technolody with ramp-edge type Josephson junctions YBaCuO–PrBaCuO–YBaCuO. It is shown that with a cooled preamplifier the energy resolution of SQUIDs makes up to 4×10⁻³⁰ J/Hz at «white» noise (at frequencies above 1 kHz) and is mainly defined by inherent noise of the HTS interferometer and the shields. At low frequencies the noises related to exterior fields that penetrate directly into the shields, are dominant. At frequencies above 1 kHz, the ferromagnetic antenna of the SQUID microscope increases the intrinsic noise of the magnetometer up to 8×10⁻³⁰ J/Hz. Âûñî 2003 Article Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии / С.С. Хвостов, В.П. Тимофеев, А.С. Гарбуз, В.И. Шнырков // Физика низких температур. — 2003. — Т. 29, № 2. — С. 211-215. — Бібліогр.: 11. назв. — рос. 0132-6414 PACS: 85.25.Dq http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/128793 ru Физика низких температур Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Новые методы низкотемпературного эксперимента Новые методы низкотемпературного эксперимента |
| spellingShingle |
Новые методы низкотемпературного эксперимента Новые методы низкотемпературного эксперимента Хвостов, С.С. Тимофеев, В.П. Гарбуз, А.С. Шнырков, В.И. Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии Физика низких температур |
| description |
Исследована спектральная плотность шума магнитного потока SФ¹/²(f) ВТСП ВЧ сквидов с частотой накачки 390-457 МГц в трехслойном пермаллоевом и сверхпроводящем экранах. Сверхпроводящий интерферометр, имеющий внутренний размер контура квантования 100´100 мкм, изготовлен по тонкопленочной технологии с джозефсоновским контактом YBaCuO-PrBaCuO-YВaCuO типа ramp-edge. Показано, что при использовании охлаждаемого предусилителя энергетическая чувствительность сквидов в области "белого" шума (на частотах выше 1кГц) составляет 4×10⁻³⁰ Дж/Гц и в основном определяется собственными шумами ВТСП интерферометра и экранов. На низких частотах преобладают шумы, связанные с внешними полями, проникающими непосредственно в экраны. Ферромагнитная антенна сквид-микроскопа увеличивает собственный шум магнитометра до величины 8×10⁻³⁰ Дж/Гц на частотах выше 1 кГц. |
| format |
Article |
| author |
Хвостов, С.С. Тимофеев, В.П. Гарбуз, А.С. Шнырков, В.И. |
| author_facet |
Хвостов, С.С. Тимофеев, В.П. Гарбуз, А.С. Шнырков, В.И. |
| author_sort |
Хвостов, С.С. |
| title |
Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии |
| title_short |
Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии |
| title_full |
Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии |
| title_fullStr |
Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии |
| title_full_unstemmed |
Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии |
| title_sort |
высокочастотный втсп сквид для магнитной микроскопии |
| publisher |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| publishDate |
2003 |
| topic_facet |
Новые методы низкотемпературного эксперимента |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/128793 |
| citation_txt |
Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии / С.С. Хвостов, В.П. Тимофеев, А.С. Гарбуз, В.И. Шнырков // Физика низких температур. — 2003. — Т. 29, № 2. — С. 211-215. — Бібліогр.: 11. назв. — рос. |
| series |
Физика низких температур |
| work_keys_str_mv |
AT hvostovss vysokočastotnyjvtspskviddlâmagnitnojmikroskopii AT timofeevvp vysokočastotnyjvtspskviddlâmagnitnojmikroskopii AT garbuzas vysokočastotnyjvtspskviddlâmagnitnojmikroskopii AT šnyrkovvi vysokočastotnyjvtspskviddlâmagnitnojmikroskopii |
| first_indexed |
2023-10-18T20:56:08Z |
| last_indexed |
2023-10-18T20:56:08Z |
| _version_ |
1796151493436375040 |