VUV stimulated solid-phase reactions on the surface on Ni nano-layers on Si substrate

Using X-ray reflectometry method, the kinektics of solid state reactions at the surface of layered thin film nickel/Sisub system (effective nickel thickness 15 and 45 nm) under VUV irradiation of 8≤hv≤1.8 eV energy was studied. Nickel and nickel oxide layers have shown no changes both in thickness a...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2006
Автори: Mikhailov, I.F., Malykhin, S.V., Borisova, S.S., Fomina, L.P.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2006
Назва видання:Functional Materials
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/134056
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:VUV stimulated solid-phase reactions on the surface on Ni nano-layers on Si substrate / I.F. Mikhailov, S.V. Malykhin , S.S. Borisova , L.P. Fomina // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 3. — С. 381-386. — Бібліогр.: 28 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine