Підвищення точності вихрострумового контролю електропровідності матеріалу та товщини діелектричного покриву оболонок
На основі побудови двопараметрової нелінійної моделі зворотної функції перетворення системи “вихрострумовий первинний перетворювач–об’єкт контролю” запропоновано метод вимірювання питомої електричної провідності матеріалу і товщини діелектричного покриву оболонок. Метод забезпечує суттєве зменшення...
Збережено в:
| Дата: | 2013 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України
2013
|
| Назва видання: | Фізико-хімічна механіка матеріалів |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/134209 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Підвищення точності вихрострумового контролю електропровідності матеріалу та товщини діелектричного покриву оболонок / А.Я. Тетерко, В.М. Учанін, В.І. Гутник // Фізико-хімічна механіка матеріалів. — 2013. — Т. 49, № 6. — С. 133-139. — Бібліогр.: 10 назв. — укp. |