Stydy on resistivity and micostructure of magnetron sputtered α-C:Si films
Electric resistivity and microstructure of silicon-doped (5 to 38 at. % Si) amorphous carbon (α-C) films deposited by de magnetron sputtering in argon plasma of composed (graphite + single crystalline silicon) target has been studied as a function of silicon content in films. The film resistivity pa...
Збережено в:
| Дата: | 2006 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2006
|
| Назва видання: | Functional Materials |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135059 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Stydy on resistivity and micostructure of magnetron sputtered α-C:Si films / A.A. Onoprienko, I.B. Yanchuk // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 4. — С. 652-656. — Бібліогр.: 17 назв. — англ. |