Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами
Комплексно досліджено напружено-деформований та граничний стани багатошарових структур (гомогенних та гетерогенних триплексів) з тріщиноподібними дефектами в їх елементах у діапазоні 213…293 K. Для ефективного визначення коефіцієнтів інтенсивності напружень біля вершин тріщин в органічному та неорга...
Збережено в:
| Видавець: | Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2015 |
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України
2015
|
| Назва видання: | Фізико-хімічна механіка матеріалів |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135159 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами / Ю.А. Рудяк, М.І. Підгурський // Фізико-хімічна механіка матеріалів. — 2015. — Т. 51, № 2. — С. 68-71. — Бібліогр.: 6 назв. — укp. |