Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами

Комплексно досліджено напружено-деформований та граничний стани багатошарових структур (гомогенних та гетерогенних триплексів) з тріщиноподібними дефектами в їх елементах у діапазоні 213…293 K. Для ефективного визначення коефіцієнтів інтенсивності напружень біля вершин тріщин в органічному та неорга...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автори: Рудяк, Ю.А., Підгурський, М.І.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України 2015
Назва видання:Фізико-хімічна механіка матеріалів
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135159
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами / Ю.А. Рудяк, М.І. Підгурський // Фізико-хімічна механіка матеріалів. — 2015. — Т. 51, № 2. — С. 68-71. — Бібліогр.: 6 назв. — укp.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-135159
record_format dspace
spelling irk-123456789-1351592018-06-15T03:06:25Z Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами Рудяк, Ю.А. Підгурський, М.І. Комплексно досліджено напружено-деформований та граничний стани багатошарових структур (гомогенних та гетерогенних триплексів) з тріщиноподібними дефектами в їх елементах у діапазоні 213…293 K. Для ефективного визначення коефіцієнтів інтенсивності напружень біля вершин тріщин в органічному та неорганічному склі розвинуто поляризаційно-оптичний метод для величин оптичної анізотропії, менших за 1l, де l – довжина хвилі зондувального випромінювання. Для оцінки граничного стану триплексів, елементами яких є органічне і неорганічне скло та склеювальний шар, запропоновано фізико-механічний критерій граничного стану – критерій тензора діелектричної проникності. Проаналізовано міцність чотирьох варіантів триплексів (гомогенний без та з обрамленням, гетерогенний без та з обрамленням) і вибрано оптимальну конструкцію – гетерогенний триплекс без обрамлення. Комплексно исследованы напряженно-деформированное и предельное состояния многослойных структур (гомогенных и гетерогенных триплексов) с трещиноподобными дефектами в их элементах в диапазоне 213…293 K. Для эффективного определения коэффициентов интенсивности напряжений возле вершин трещин в органическом и неорганическом стекле развит поляризационно-оптический метод для величин оптической анизотропи, меньших за 1l, где l – длина волны зондирующего излучения. Для оценки предельного состояния триплексов, элементами которых является органическое и неорганическое стекло и склеивающий слой, предложен физико-механический критерий предельного состояния – критерий тензора диэлектрической проницаемости. Проанализирована прочность четырех вариантов триплексов (гомогенный без и с обрамлением, гетерогенный без и с обрамлением) и выбрана оптимальная конструкция – гетерогенный триплекс без обрамления. The stress-strain state and limiting state of multilayer structures (homogeneous and heterogeneous triplex) with crack-like defects in their elements in the temperature range 213…293 K are studied in a complex. In order to determine effectively the values of the stress intensity factors (SIF) at the crack tips in organic and inorganic glass, the polarizationoptical method was developed for the cases of investigation of small size (to 1l, where l is wavelength of the probe radiation) patterns of optical anisotropy. To assess the limiting state of the triplex, with component parts (elements) that are organic and inorganic glass and cementing the layer, the physicomechanical criterion of the limiting state – the criterion of tensor of dielectric permeability (TDP) is proposed. As a result of the studies four options for constructive solutions of triplex (homogeneous triplex without frame and with frame, heterogeneous triplex without frame and with frame) are analyzed in terms of the strength and the optimum constructive design – heterogeneous triplex without frame – was defined. 2015 Article Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами / Ю.А. Рудяк, М.І. Підгурський // Фізико-хімічна механіка матеріалів. — 2015. — Т. 51, № 2. — С. 68-71. — Бібліогр.: 6 назв. — укp. 0430-6252 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135159 uk Фізико-хімічна механіка матеріалів Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Ukrainian
description Комплексно досліджено напружено-деформований та граничний стани багатошарових структур (гомогенних та гетерогенних триплексів) з тріщиноподібними дефектами в їх елементах у діапазоні 213…293 K. Для ефективного визначення коефіцієнтів інтенсивності напружень біля вершин тріщин в органічному та неорганічному склі розвинуто поляризаційно-оптичний метод для величин оптичної анізотропії, менших за 1l, де l – довжина хвилі зондувального випромінювання. Для оцінки граничного стану триплексів, елементами яких є органічне і неорганічне скло та склеювальний шар, запропоновано фізико-механічний критерій граничного стану – критерій тензора діелектричної проникності. Проаналізовано міцність чотирьох варіантів триплексів (гомогенний без та з обрамленням, гетерогенний без та з обрамленням) і вибрано оптимальну конструкцію – гетерогенний триплекс без обрамлення.
format Article
author Рудяк, Ю.А.
Підгурський, М.І.
spellingShingle Рудяк, Ю.А.
Підгурський, М.І.
Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами
Фізико-хімічна механіка матеріалів
author_facet Рудяк, Ю.А.
Підгурський, М.І.
author_sort Рудяк, Ю.А.
title Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами
title_short Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами
title_full Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами
title_fullStr Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами
title_full_unstemmed Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами
title_sort дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами
publisher Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України
publishDate 2015
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135159
citation_txt Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами / Ю.А. Рудяк, М.І. Підгурський // Фізико-хімічна механіка матеріалів. — 2015. — Т. 51, № 2. — С. 68-71. — Бібліогр.: 6 назв. — укp.
series Фізико-хімічна механіка матеріалів
work_keys_str_mv AT rudâkûa doslídžennâmícnostíbagatošarovihstrukturízprozorihdíelektrikívoptičnimimetodami
AT pídgursʹkijmí doslídžennâmícnostíbagatošarovihstrukturízprozorihdíelektrikívoptičnimimetodami
first_indexed 2023-10-18T21:10:36Z
last_indexed 2023-10-18T21:10:36Z
_version_ 1796152123781545984